了解提高傳輸速率和傳輸距離,計算機和通訊產(chǎn)業(yè)正逐步轉(zhuǎn)移到高速串行總線,在芯片-芯片、板卡-板卡與背板間實現(xiàn)高速互連。這些高速串行總線的速率正從過去USB2.0、LVDS及FireWire1394的幾百Mbps,提升到當(dāng)前PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2、XAUI/2XAUI、XFI的數(shù)
Gbps,甚至達10Gbps,這意味著計算機與通訊業(yè)的PCB廠商對差分走線的阻抗控制要求將越來越高,因此使PCB制造商及高速PCB設(shè)計人員面臨前所未有的挑戰(zhàn)。本文將結(jié)合PCB業(yè)界的測試標(biāo)準(zhǔn)IPC-TM-650手冊,討論真實差分TDR測試方法的原理及特點。
IPC-TM-650測試手冊是一套全面性PCB產(chǎn)業(yè)測試規(guī)格,從PCB的機械特性、化學(xué)特性、物理特性、電氣特性、環(huán)境特性等方面提供了詳盡測試方法及測試要求。該手冊的2.5節(jié)描述了PCB電氣特性,而其中的2.5.5.7a則全面介紹了PCB特征阻抗測試方法和相應(yīng)的測試儀器要求,并包含了單端走線和差分走線的阻抗測試。
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